位测试功能块用于测试位串中的某一位是 1 或 0，测试结果存入输出 Q 中。 每次扫描时当测试功能块得电, 输出 Q 状态与测试的位的状态相同。如果 用于测试位数的为寄存器变量而不是常数，那么每次扫描时同一功能块 将可对不同的位进行测试。如果测试位数 BIT 超出范围 (1 < BIT < (16 * length) ), 那么输出 Q 为 OFF。 位测试功能支持长 256 个字的位串。
TI 6MT14-40CL DC Output Texas Instrument 6MT1440CL
TI 6MT32 Output Logic Module Texas Instrument
TI 6MT11-E05L Input Module 6MT11E05L Texas Instrument
Yamatake 1LS75-JWC-PD03 Limit Switch 0808PW
United Electric 701 Pressure Switch 1.5 to 30 PSI
BOSCH SECURTIY SYSTEMS DS150i Request-to-Exit PIR
Commscope 89F1F-100 Connector Terminal Block 104024773
Siemens 3VE1 Circuit Breaker 3VE1010-8J
Siemens 3RT1026-1BB40 24VDC Contactor
BOSCH 1070913547-A02-C36 AUTOMATION CONTROL
Wilson Tool 1839 1 1/4″ Thk Standard Punch
Siemens 3TC4417-5KB4 DC 24V Contactor
Yaskawa SI-K2 Varispeed Interface Card RS-232C/485
Yaskawa AO-12B2 Isolated Analog Monitor Card for G5
National Controls A1M-0999M-461 Time Delay Relay NCC
Mennekes 2175A Plug 4 Pole 60Hz 400-440V 32Amp
SNTech SN-ECM Motor Controller 1/24HP SE30D12HH/C
Siemens 3RT1026-1AL20 AC 230V Contactor
Mitsubishi MB30-CS Circuit Breaker 1.4 AMP 3P
